试管婴儿圆了众多不孕家庭生育宝宝的梦想。但是,现实中也有一部分不孕夫妇反复经历着试管婴儿失败,他们四处求医、反复各种检查、服用各种药物,但是却难以找到病因或者只能找到一些似是而非的病因。这个时候,我们需要警惕女性遗传性缺陷的可能。
在介绍女性遗传性缺陷导致反复试管失败之前,先让我们简单的了解一下“单基因遗传病”。
单基因遗传病
单基因遗传病是指一对等位基因突变导致的疾病。简单来说就是疾病的发生是由一个基因突变导致的,跟环境没有或者基本没有关系。与这一概念相区别的是多基因疾病,后者是指疾病的发生不仅和多个基因有关,还由环境和生活方式因素叠加导致。我们熟悉的高血压、糖尿病大多属于多基因疾病。
不同疾病的遗传方式不同,家族再发风险也不同。单基因遗传病还有一个重要特点就是家族再发风险高,也就是说,TA的大家系里有可能有人出现过同样的问题。但是,这绝不是说患者的父母或家族中一定有相似的患者。比如说有一种单基因遗传病呈“常染色体隐性遗传”,往往他们的父母都是正常人,上代中也没有相似的患者,但是父母分别携带有致病基因,他们同时把致病基因传递给了同一个后代,就会发病。所以,您绝对不能通过家族中没有这类疾病而完全否认遗传性疾病的可能。
单基因疾病的病因说起来简单,由基因突变导致,但是在人类2-3万个基因中找到这个致病基因可不容易,往往需要结合大的家系样本调查和遗传学实验分析以最终确定致病基因。但是,在生殖医学领域,由于“不孕不育”概念笼统,病因多样,且不孕不育导致患者没有生育能力,无法拥有后代,也就往往缺乏大的疾病家系,所以一直以来发现的与生殖相关的单基因疾病很少。试管婴儿技术和二代测序技术
随着试管婴儿技术的发展,我们可以在实验室显微镜下准确的观察到女性卵子的发育、受精、胚胎细胞分裂等一系列过程。这使得我们能够准确的得知不孕女性具体的问题出在哪个环节。如果患者反复在相同环节出现问题且无法解释,例如,总是卵子不成熟,或每个周期胚胎总是评分很差,那么就要考虑是否由遗传基因的缺陷导致。这时,科学家们可以通过二代测序技术准确找到某个缺陷的基因。
在女性不孕致病基因的鉴定过程中,二代测序技术使我们摆脱了对疾病大家系的依赖:只要对患者核心家系成员,也就是患者及其父母行全基因组测序,结合生物信息学分析就可以找到他们的致病基因。近年来,借助二代测序技术,国内科学家已陆续发现多个导致女性反复试管失败和不孕的致病基因。
导致反复试管失败和女性不孕的致病基因
来自复旦大学王磊教授团队近些年来发现多个导致女性不孕的致病基因,如:
2016年,在一个涉及三代的不孕家系中发现,患者试管婴儿过程中表现为反复卵子不成熟,通过二代测序技术发现TUBB8基因突变是导致他们不孕的原因。
2016年,在一个三姐妹不孕的家系中发现,患者反复试管婴儿过程中胚胎表现为发育停滞,他们的父母是近亲结婚,通过二代测序技术发现PADI6突变是导致他们不孕的原因。
2018年,在4个不孕患者中发现,他们在试管婴儿过程中表现为反复卵子受精失败,其中3个家系女方父母均是近亲结婚,通过二代测序技术发现WEE2突变是导致他们受精失败和不孕的原因。
2019年,在4个不孕家系中发现,女性患者在试管婴儿过程中,所有卵子取出后很快死亡,即使部分卵子能够正常受精,也在分裂之前死亡。通过二代测序技术发现PANX1基因突变是导致卵子死亡的病因。
此外,目前发现的导致反复试管失败的相关的致病基因还有ZP1、ZP3、PATL2、TLE6、NLRP2、NLRP5等。相信,新的致病基因还会不断的被发现。
总结:如果您反复试管失败,特别是每次导致失败的环节相似,比如是卵子不成熟、不受精、胚胎质量差等,建议您到生殖遗传咨询门诊咨询,排查一下是否存在遗传缺陷,避免不必要的反复试管婴儿治疗。
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